可变角度ATR-VeeMAX III •角度范围:30-80°连续改变•可测试样品深度:0.4-46微米•提供安装偏振片插槽•可测常规样品,单分子膜,扩展原位电化学应用•晶体类型:ZnSe, Ge, Si, ZnS•晶体长度:20mm*加热扩展温度:130℃