可变角度ATR-VeeMAX III

•角度范围:30-80°连续改变
•可测试样品深度:0.4-46微米
•提供安装偏振片插槽
•可测常规样品,单分子膜,扩展原位电化学应用
•晶体类型:ZnSe, Ge, Si, ZnS
•晶体长度:20mm
*加热扩展温度:130℃

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